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1.
封面仅供参考
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2024
文献类型: 中文图书 , 索书号: TP311.55/31
2.
封面仅供参考
著者: 杨定佳
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2024
文献类型: 中文图书 , 索书号: TP311.55/30
3.
封面仅供参考
芯片封测从入门到精通 已借14次.
著者: 江一舟
出版社: 北京大学出版社   出版日期: 2024
文献类型: 中文图书 , 索书号: TN430.5/5
4.
封面仅供参考
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2024
文献类型: 中文图书 , 索书号: TN929.538/3
5.
封面仅供参考
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2024
文献类型: 中文图书 , 索书号: TP311.55/33:T5
6.
封面仅供参考
著者: 李龙
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2024
文献类型: 中文图书 , 索书号: TP311.55/32
7.
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Effective软件测试 已借2次.
著者: 阿尼什
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2023
文献类型: 中文图书 , 索书号: TP311.55/29
8.
封面仅供参考
软件测试技术与研究 已借2次.
著者: 曹小鹏
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2022
文献类型: 中文图书 , 索书号: TP311.55/28
9.
封面仅供参考
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2021
文献类型: 中文图书 , 索书号: G804.2-33/1
10.
封面仅供参考
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2021
文献类型: 中文图书 , 索书号: TP311/925:2