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纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 |
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题名/责任者:
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纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 / (美)桑迪普 K.戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编 , 续海涛等译 |
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ISBN:
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978-7-111-52184-6 价格： CNY59.90 |
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语种:
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汉语 |
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载体形态:
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13,191页 : 图 ; 24cm |
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出版发行:
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北京 : 机械工业出版社, 2016 |
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内容提要:
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本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成(ATPG)；第2部分介绍全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD；第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案；第4部分介绍了SDD的测试标准等内容。 |
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主题词:
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纳米材料 CMOS电路 缺陷检测 |
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中图分类法
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TN432 版次： 5 |
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主要责任者:
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戈埃尔 主编 |
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主要责任者:
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查克拉巴蒂 主编 |
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次要责任者:
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续海涛 译 |
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标签:
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相关主题:
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相关资源:
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